Kirchhofov zákon pre žiarenie
Kirchoff pri štúdiu sálania odhalil, že každé teleso, ktoré je v tepelnej rovnováhe – teda v ustálenom stave s konštantnou teplotou, bude pri každej špecifickej teplote ( vlnovej dĺžke) absorbovať rovnaké množstvo žiarenia ako samo vyžiari.
Teda potom platí, že :
A = E
α = ε
absorptancia ( pohltivosť) = emisivita ( žiarenie )
Teda pre celkovú intenzitu vyžarovania meraného povrchu možno písať :
E + R + T = 1
- E = emitované žiarenie meraného objektu,
- R = odrazené žiarenie okolitých objektov z meraného povrchu a
- T = prepustené žiarenie okolitých objektov cez meraný objekt.
Súčet zložiek je vždy rovný 1 ( = 100%):
Keďže väčšina materiálov je pre žiarenie nepriepustná potom pre celkové žiarenie dopadajúce z meraného povrchu je úmerné len časti emitovaného žiarenie úmerného emisivite a časti odrazeného žiarenia úmerného odrazivosti:
Vzťah pre celkovú intenzitu vyžarovania meraného povrchu sa zjednoduší na:
E + R = 1
Pre termografiu to znamená:
čím nižší je stupeň emisivity,
- tým vyšší je podiel odrazeného infračerveného žiarenia,
- tým obťažnejšie je presné meranie teploty a
- tým dôležitejšie je presné nastavení kompenzácie odraznej ( reflektujúcej) teploty (RTC).