NÁKUPNÝ KOŠÍK: zobraziť obsah košíka

Základy termografie

Kirchhofov zákon pre žiarenie

 

Kirchoff pri štúdiu sálania odhalil, že každé teleso, ktoré je v tepelnej rovnováhe – teda v ustálenom stave s konštantnou teplotou, bude pri každej špecifickej teplote ( vlnovej dĺžke) absorbovať rovnaké množstvo žiarenia ako samo vyžiari.

Teda potom platí, že :

A = E

α = ε

absorptancia ( pohltivosť)   =  emisivita ( žiarenie ) 

Teda pre celkovú intenzitu vyžarovania meraného povrchu možno písať :

E + R + T = 1

  • E = emitované žiarenie meraného objektu,
  • R = odrazené žiarenie okolitých objektov z meraného povrchu a
  • T = prepustené žiarenie okolitých objektov cez meraný objekt.

Súčet zložiek je vždy rovný 1 ( = 100%):

Keďže väčšina materiálov je pre žiarenie nepriepustná potom pre celkové žiarenie dopadajúce z meraného povrchu je úmerné len časti emitovaného žiarenie úmerného emisivite a časti odrazeného žiarenia úmerného odrazivosti:

Vzťah pre celkovú intenzitu vyžarovania meraného povrchu sa zjednoduší na:

E + R = 1

Pre termografiu to znamená:

čím nižší je stupeň emisivity,

  • tým vyšší je podiel odrazeného infračerveného žiarenia,
  • tým obťažnejšie je presné meranie teploty a
  • tým dôležitejšie je presné nastavení kompenzácie odraznej ( reflektujúcej)  teploty (RTC).

Príručka termografie - Obsah

  1. Emisivita, odrazivosť, priepustnosť
  2. Kirchhofov zákon pre žiarenie
  3. Vzťah medzi emisivitou a odraznou teplotou
  4. Miesto merania a vzdialenosť merania
  5. Meraný objekt
  6. Okolie merania
  7. Meranie stupňa emisivity ( E ) a odraznej ( reflektujúcej) teploty RTC v praxi
  8. Zdroje chýb pri infračervenom meraní
  9. Meranie žiarenia na skle
  10. Meranie na kovoch
  11. Zrkadlový odraz
  12. Najlepšie podmienky pri infračervenom meraní
  13. Perfektný termogram
  14. Glosár